为推进仪器科学与技术学科发展，拓宽师生国际学术视野，促进微纳传感器与可靠性工程学科方向国际交流与合作，测控技术与通信工程学院、科研处邀请新加坡工程院院士、新加坡国立大学TANG Loon Ching教授来我校做学术讲座。欢迎校内师生参加讲学活动。

 讲座题目：可靠性试验设计与分析

 讲座专家：新加坡工程院院士TANG Loon Ching教授

 讲座时间：2024年6月12日，上午10：00

 讲座地点：新主楼E904报告厅

 讲座内容：加速寿命试验与性能退化试验技术、加速试验设计技术、

                 试验建模与统计推断方法。

 主讲专家介绍:

TANG Loon Ching教授于1992年获颁美国康乃尔大学运筹学博士学位，目前是新加坡工程院院士、新加坡国立大学工业系统工程与管理系教授。曾于2008-2015年间任该系主任，并于2014-2020年间出任淡马锡国防系统所所长，当选为国际工业与系统工程师协会2012-2015年间的亚太区副主席，也受邀成为国际工程资产管理协会会士。

TANG教授从事教育、科研、行政、咨询及培训工作近三十年，对运筹、统计与概率 的理论及应用融会贯通，善于数据分析及建模优化，且能付诸实践，并将之融入软件开发在工业界创新应用。近年来从事的研究包括系统韧性工程、质量与可靠性工程、物流及系统优化等，在国际刊物发表一百多篇相关论文。自2006年起受委美国质量学会旗舰国际期刊Journal of Quality Technology 编委，2016年起受委为国际期刊Quality and Reliability Engineering International主编。主编出版“Six Sigma: Advanced Tools for Black Belt and Master Black Belt”(John Wiley)一书，荣获2007年国际质量学会(International Academy for Quality)的首届书籍奖(Masing Book Prize)。董教授曾为多家本地机构与跨国企业如内政部、国家电网、国家生产力与标准局、国防科技局、希捷、菲力浦、惠普、宏腾国际等服务，多次作为战略咨询专家为中国政府部门及大型企业高管进行咨询培训。

                                                                                  测通学院、科技处